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目前位置:产品中心 -> Fluke Ti 20 热成像仪 -> 产品参数
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  产品参数
    
热参数
探测器类型:硅探测器,非制冷焦平面
准确度:±2% 或 ±2ºC(取大者)
准确度(-10 至 0 C):+/- 3ºC
重复性:±1% 或 ±1ºC(取大者)
NETD:200 mK
温度显示分辨率:0.1 ºC
光学/红外
光谱范围:7.5-14 微米
目标瞄准:单波长激光点(符合 lEC 2 类及 FDA II 类要求)
光学分辨率:75:1
测量圆点最小直径:8.1 mm(距离为 61cm 时)
视场 (FOV):20º 水平 x 15º 垂直
控制
焦点:可聚焦,15 cm 至无穷远
温标:可选择 ºC
色板:灰色、反灰色、蓝红、铁红、彩虹、热金属、高对比度、蓝红、经色、琥珀色
测量模式:可选择自动或手动
激光开/关:随附
增益控制:随附
级别控制:随附
LCD 背光:可选择亮或暗
操作
可调辐射系数:0.10 至 1.00,步长 0.01
液晶显示:TFT 技术,适于室内及室外使用,70.5 mm x 53.5 mm
反射背景温度:-50 至 905ºC
操作环境温度:-10 至 50ºC
相对湿度:10 至 90% 不结露
存放温度:-25 至 70ºC [不带电池]
存储能力:100 张图像
激光开启图标:随附
电池电量不足图标:随附
测量模式图标:随附
热分析软件:InsideIR(随附)
PC 软件操作系统:Microsoft® Windows 2000® 或 Windows XP®
电气
电源:充电电池组(随附)
电池寿命:至少连续使用 3 小时
数据传输:USB 接口,50 幅图像的总传输时间仅为 25 秒
存储设备:快速存储器
其它
三脚架(6.35 mm (1/4) 20 统一标准螺纹)
重量(包括电池):1.2 kg
保修:1 年
产地:美国
撞击防护:半正弦波,11 ms,30 g 峰值,符合 mil-prf-28800f
振动防护:
- 随机6G
EMC:EN 61326-1
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